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Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
Beschreibung
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
- Auftraggeber
- Friedrich-Schiller-Universität Jena
- Sitz des Auftraggebers
- Thüringen · Jena
- Erfüllungsort
- Thüringen · Jena
- Abgabefrist
- 27. Oktober 2026 in 4 Tagen
- Veröffentlicht
- 24. September 2026
- Geschätzter Wert
- —
- Verfahren
- open
- Portal
- oeffentlichevergabe.de · TED · evergabe-online.de
CPV-Codes
38000000
Bekanntmachung
Die Original-Bekanntmachung auf dem Portal des Auftraggebers.
Quellehttps://oeffentlichevergabe.de/ui/de/search/details?noticeId=29c89bae-5a70-4ee0-a231-78c002b2e8bf&lotId=LOT-0001Vergabeunterlagen
Die Unterlagen dieser Ausschreibung auf dem Portal des Auftraggebers.
Über den Auftraggeber
Friedrich-Schiller-Universität Jena hat derzeit 9 offene Ausschreibungen.
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